
作為國內率先實現高精度數字源表(SMU)產業化的半導體測試裝備優質供應商,普賽斯儀表副總經理王承博士受邀出席并發表《SiC輸出半導體器件電源模塊測試儀對決及對待》主題演講。

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會上,普賽斯儀表副總經理王承博士闡述了如何準確可靠地實現SiC功率器件的測試方案,以新能源領域車規級功率器件參數測試為切入點,分享了在新能源領域功率器件成套解決方案等方面的關鍵舉措。本場演講重點介紹了普賽斯儀表實驗室、高低溫、產線半自動/全自動等功率半導體靜態參數測試解決方案,廣泛適用于從實(shi)驗室(shi)到小批量(liang)(liang)、大(da)批量(liang)(liang)產線的全方(fang)位(wei)應用,幫助國產功率半導(dao)體廠商加(jia)快研發測試以及批量(liang)(liang)化生(sheng)產進(jin)程(cheng)。
普賽斯輸出功率配件靜態式的參數設置測試測試機系統,是武漢普賽斯經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統。該系統不僅提供IV、CV、跨導等(deng)多(duo)元化的(de)(de)測(ce)試功(gong)能,還具備高精度、寬(kuan)(kuan)測(ce)量范(fan)圍(wei)、模塊(kuai)化設(she)計以及(ji)便(bian)捷(jie)的(de)(de)升級(ji)擴展等(deng)顯著優勢。其設(she)計初衷在(zai)于全面(mian)滿足從(cong)基(ji)礎功(gong)率(lv)二極管、MOSFET、BJT、IGBT到(dao)寬(kuan)(kuan)禁帶半導(dao)體SiC、GaN等(deng)晶圓、芯片、器件及(ji)模塊(kuai)的(de)(de)靜態參數表征(zheng)和測(ce)試需求,確(que)保測(ce)量效率(lv)、一(yi)致性(xing)(xing)與可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)的(de)(de)優異表現。

PMST公率元件靜(jing)態數據(ju)(ju)數據(ju)(ju)檢查模式

PSS TEST空態高溫度(du)過(guo)低半系統的自動測(ce)(ce)試測(ce)(ce)試系統的

PMST-MP 冗(rong)余因(yin)素半自(zi)行化測試儀系(xi)統

PMST-AP 靜(jing)止性能(neng)指標(biao)全半(ban)機械自動化測試英文控制(zhi)系(xi)統(tong)
大電流輸出響應快,無過沖

高壓測試支持恒壓限流,恒流限壓模式

普賽斯儀表作為半導體電性能測試領域的權威解決方案供應商,始終秉持創新技術與匠心精神的融合,深耕于功率半導體市場。
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